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周波数シフト帰還型レーザ(Frequency-Shifted Feedback Laser)  OCM-A
超高精度光計測技術
 「高精度・高速」な距離計測技術を応用したレーザーレーダー方式による三次元計測システムです。計測精度は計測距離に依存せず、フィールドにおいて、計測距離500mで0.2mmの計測精度(実用精度)を実現します。
 
 
※本技術は、東北大学電気通信研究所 伊藤弘昌研究室と㈱光電製作所の共同開発であり、科学技術振興機構(JST) 独創的シーズ展開事業(平成14年度)の委託費を受けました
 

主な特長
①遠隔・非接触での計測が可能
②計測精度は、計測距離に依存しない
③最大1000点/秒の高速サンプリング
④高精度な3D測定(スキャニング)が可能(計測距離1~5m)

仕様
 計測用FSFL光源  中心波長 1550 nm
 出力パワー 0~15 dbm
 計測距離  散乱体     : 1~5 m
 ターゲット使用 : 最大1 km
 計測精度(±1σ)  ±0.05 mm
 角度分解能  0.15″
 サンプリング速度  最大1000 Hz
 外形寸法  W:81×H:94×L:662(mm) (突起物含まず)
 電源  AC100V
 標準付属品  取扱説明書



形状・寸法
 外形寸法[mm]
 (突起物含まず)
 および重量[kg]
  W D H 重量
 信号処理部 430 450 200 15
 スキャナ制御部
 (※は取っ手含む)
φ250 260 13
(※256) (※250) (※305)
 スキャナヘッド部
 (注)
450 155 285 17
(注)三脚(オプション品)は外形寸法に含んでおりません


測定原理
 周波数シフト帰還型レーザ(FSFレーザ)は、超高速で線形の周波数チャープ(変化)光源です。つまり、FSFレーザには、時間に比例して、瞬時周波数が変化する(チャープする)成分が、共振器縦モード周波数ごとに存在し、これを光周波数領域リフレクトメトリ(OFDR)法に適用すると、共振器縦モード間隔内に複数のビート周波数を得ることができ、高精度の距離計測が可能となります。
周波数チャープ光をプローブ光と参照光の2つの光波に分割し、干渉計光路差を与えて再び合成し、これを光検出器で観測すると、その光路差に比例したビート周波数が得られます。
 

FSFレーザのチャープ周波数出力
τRT:共振器周回時間
νs:共振器周回に光波の受ける周波数シフト
νo:種光の発生周波数

OFDRの基本構成


 

 
主な用途
・ハイピアの橋梁のたわみ計測
・柱状構造物の固有振動計測
・その他、長距離区間における非接触・高精度距離計測
・金属加工部品の表面形状計測
・高温体の表面形状計測
・その他、高精度表面形状計測


 
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